SMC 8432A 60-600719-002 采集卡全系列,
SMC 8432A 60-600719-002,

 

 

PXI（PCI eXtensions for Instrumentation）是National Instruments（NI）开发的一种模块化测试和测量平台。它结合了计算机总线技术和仪器化测试的需求，提供了高性能、高可靠性和可扩展性的测试解决方案。

PXI的主要特点和功能包括：

1. 模块化设计：PXI是一种模块化的测量和控制平台，SMC 8432A 60-600719-002使用标准的PCI总线和插槽机制。用户可以根据自己的需求，选择和组合不同类型的模块，如数据采集、信号发生器、数字I/O等，组成完整的测试系统。

2. 高性能和准确性：PXI支持高速数据传输和高精度的测量能力。通过使用高性能的数据转换器、时钟同步和硬件触发机制，PXI系统可以实现高速、准确的数据采集和控制任务。

3. 多种硬件兼容性：PXI可以与各种NI的硬件产品以及第三方硬件设备无缝集成。这些设备包括各种模拟和数字I/O模块、RF和微波模块、高速数据采集卡等，提供了广泛的硬件选择和兼容性。

4. 软件支持：PXI使用NI的LabVIEW编程环境和工具库，提供了丰富的测试和测量功能。LabVIEW的图形化编程方式使得开发和调试测试应用程序变得更加简单和直观。

5. 高可靠性：PXI模块和机箱的设计经过了严格的测试和验证，具有良好的抗干扰能力和抗冲击能力。PXI机箱内部的模块之间通过可靠的背板总线进行数据和同步信号的传输，确保系统的可靠性和稳定性。

6. 可扩展性：PXI系统可以根据需要进行灵活的扩展和定制化配置。用户可以根据应用的需求，在现有系统上增加额外的模块和功能，以满足不断变化的测试需求。

PXI广泛应用于各种测试和测量领域，包括电子设备测试、通信系统验证、信号分析、数据采集与控制、自动化测试等。它提供了一种快速、灵活和可靠的测试和测量平台，帮助工程师和科学家们测试效率、降低成本，并满足复杂的测试要求。

1841-SEC/K9;VG248;
USB-4751L;ESW-520-24P-K9;
PCM-3351F;WS-X4506-GB-T;
2921/K9;PCIE-1752;
MIC-1816R;WS-X6K-S2-MSFC2;
NI 9218;3750G-48PS;
SPA-8X1GE;ADAM-3864 ;
VS-S2T-10G;ASA-180W-PWR-AC;
C2951-VSEC-CUBE/K9;PCL-1010B;
WS-X4013;WIC-1SHDSL-V2;
PCL-726;PCI-1724U;
PCMCIA-232;PCI-7334;
ADAM-4018+;NI 9214;
3560E-12SD;VME-PXI8015;
PXI-6602;158-D06-05B;
PCLD-782B/782;PXI-6280;
PXIe-6535;PCA-6179;
GPIB-ENET/1000;P70360;
ASA-180W-PWR-AC;PCIE-1604B-AE;
PCI-1706U;PXI-6541;
3560V2-48PS;PCI-1716-AE;
不符标准，可采用机加工与定心敲击法结合修复。严重锈蚀时，应更换阀座。片应光滑，无划痕，弹性符合要求。制阀5.2.1调节压力阀阀芯与阀座吻合严密，煤油渗漏试验五分钟，渗漏不超过一滴。根据磨损情况，可相应采取机加工，定心敲击法或研磨法修复。无法修复则更换。油阀质量标准、检修方法与压力阀相同。体部分5.3.1柱塞5.3.1.1与导向套配合尺寸公差为酱，圆度为.2mm，直线度为.22mm，表面粗糙度为，表面硬度HR5-55。2配合轴径与轴径同轴度.2mm。修磨量.1D(D为直径)。向套5.3.2.1与柱塞配合尺寸公差为表面粗糙度5.3.2.2内径与外径同轴度为公.2mm。封图应有良好弹性，元老化裂纹现象，与柱塞配合面无划痕损伤。轴、中轴部分5.4.1曲轴5.4.1.1主轴颈、曲柄颈与轴瓦配合尺寸公差为，圆度.2mm，直线度.2mm，表面粗糙度。2主轴颈与曲柄颈平行度为.3mm。轴颈与曲柄颈大修磨量为直径的.4。瓦壳5.4.2.1与轴瓦配合表面无拉伤起毛现象，表面粗糙度。2与轴瓦配合表面与导向孔垂直度为.2mm。轴瓦壳组合后，其两端导向孔同轴度社.2mm。瓦5.4.3.1与轴瓦壳配合寸公差为，与曲柄配合尺寸公差为，配合表面粗糙度5.4.3.2轴瓦键槽与键配合尺寸公差为。SMC 8432A 60-600719-002

ASM 64-20232 采集卡全系列