IC675PDI161 ge配件专注品质

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ALLEN-BRADLEY提供了多个系列的控制器，每个系列都有不同的特点和适用范围。以下是ALLEN-BRADLEY的一些主要系列控制器的详细介绍：

1. CompactLogix系列：CompactLogix系列控制器是一种基于可编程自动控制器（PAC）的紧凑型控制解决方案。它采用Modular Input/Output架构，IC675PDI161具有灵活的配置和扩展性，可以满足从小型到中型应用的需求。CompactLogix系列控制有高性能和可靠性，并支持广泛的通信方式和网络协议。

2. ControlLogix系列：ControlLogix系列控制器是一种基于可编程自动控制器（PAC）的高性能控制解决方案。它采用Modular Input/Output架构，IC675PDI161具有强大的处理能力和扩展性，适用于中型到大型应用。ControlLogix系列控制有多种通信接口和网络选项，支持多种编程语言和开发工具，提供的控制和监测功能。

3. MicroLogix系列：MicroLogix系列控制器是一种经济实用的可编程逻辑控制器（PLC）解决方案。IC675PDI161适用于小型应用和较简单的自动化系统，具有紧凑的设计和易于使用的编程界面。MicroLogix系列控制有灵活的配置选项和扩展性，可满足不同规模和复杂度的应用需求。

4. GuardLogix系列：GuardLogix系列控制器是一种专为安全控制应用设计的控制器。它基于ControlLogix架构，具有高度集成的安全功能和可编程自动控制器（PAC）的强大性能。GuardLogix系列控制器符合安全标准，如EN ISO 13849和IEC 62061，并提供了高可靠性和故障诊断能力，以确保设备和操作人员的安全。

除了以上列举的系列控制器，ALLEN-BRADLEY还提供其他系列的控制器，例如FlexLogix系列、PLC-5系列和SLC 500系列。每个系列控制器都有其特定的特点和适用范围，可以根据应用需求进行选择。

ALLEN-BRADLEY的控制器系列不仅提供了高性能的控制和管理功能，还具有灵活的配置和扩展性，以满足不同规模和复杂度的自动化应用需求。无论是小型控制系统还是大型工厂自动化系统，ALLEN-BRADLEY的控制器IC675PDI161都能提供可靠的解决方案。

1397-B250N-HA2-MB085;150-C201FBD-6P-90;
1397-B300R-HA2-L11-FS3020;1321-3RA850-A;
1203-GK5;1785-ME32;
LDC-RWR2-09-B;1397-B200R-HA2-DS200-MB018-PE-L11;
150-F135NZD;2711C-T6T;
1397-A040N-HA2-PE;280-PWRM24A-M2;
1397-B075R-HA2-DS125-FS3010-MB014-PE;1395-A65-D1-P10;
1395-B69-C1-P11;1745-PCP;
1397-B020R-FS2010-HA2;1397-B250N-HAP-MB014;
1395-A66N-D1-P10-P50-X1;1336F-MCBMX3-SP1G;
1397-B500R-PE;22F-A4P2N103;
1397-B020N-HA2-DS050-PE;1395-A67N-C1-P51;
2711P-B7D8;1397-A007R-HAP-PE;
160-BA06NPS1;22P-D208A103;
1336F-BRF30-AN-EN;1397-DB-A030L;
1395-A69-C2-P10-P50;1395-B72N-P11-P50-C2-X1;
1397-A005R-HA2-DS050-FS2010-L11-PE;1397-B075R-MB050-HA2;
160-BA04NPS1;1203-USB;
150-C3NBD;2097-F1;
1336F-B200-AE-EN-L4;1397-A040R-HA2-PE-FS2015;
1397-B015N-HA2-L11-FS2010;1336F-LA4;
STT-11A逆反射标志测试仪用途：逆反射标志测量仪又叫交通标志逆反射系数测量（定）仪，是用来测量交通标志材料逆反射系数（R）的专用仪器。逆反射标志测量仪适用于材料生产单位，质量监督部门、工程施工和监理等单位对逆反射标志材料的质量控制和监测。STT-11A逆反射标志测试仪特点：仪器性能符合我国满足我国国家标准GB/T26377-21《逆反射测量仪》标准。STT-11A逆反射标志测试仪技术参数：1.观测角()：.1～2.范围内连续可调，读数精度为.2；入射角()：1为-4～＋4，2为，范围内连续可调，读数分度为.1；光源色温：2856K5K(即CIEA光源)；探测器：硅二极管，经滤光器修正后符合CIE标准光度观察者光谱光效率V()的要求；探测器孔径对试样的张角：12；逆反射系数测量范围：.1～1999cd?lx-1?m-27.显示器：三位半数显表。

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